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サーボアナライザー クアトロシステム
Servo analyzer quattro system

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製品について

・システム同定して計測することで間欠的な定常状態でも計測可能なLMS方式、単一周波数毎にゲイン/位相を計測するFRA方式、高速にゲイン/位相を計測するFFT方式の３つの計測モードをサポート。

・ボード線図、ナイキスト線図で周波数特性を表示し、ゲイン余裕、位相余裕を自動で数値化し、サーボ制御系の安定性を判別可能。計測結果は、CSV形式でファイル保存して詳細分析可能。

・入出力信号の周波数成分における線形性が一目で把握できるコヒーレンス関数が表示可能。

・ステップ関数/インパルス関数/計測用外乱信号の入出力波形を即座に表示して、計測システムと計測対象のサーボ計測系動作を即座に確認可能。

 

サーボアナライザーを使ったサーボ特性計測

サーボ特性を計測したい機器の制御コントローラーとディジタルI/Fで接続し、計測を行います。

結果は専用アプリケーションにてPC上で確認ができます。

製品の特長

主な特長

コントローラーのカスタマイズにより間欠的に動作する制御系に対しても計測ができます。

既存のサーボアナライザには無い機能です。

標準 I/F はディジタルです。ノイズの影響を受けない高精度な計測が行えます。

アナログ I/Fもカスタマイズで対応致します。

 

製品構成/付属品

製品写真

付属品

・アプリケーションCD (1)

・USBケーブル (1)

・ACアダプター (1)

仕様/価格

サーボアナライザー（標準仕様一覧）

計測モード
LMSモード	FIRフィルタタップ数	512タップ
	上限周波数	5kHz　　※サンプリング周波数の1/2まで
	その他	間欠動作でもサーボ周波数特性計測が可能
FRAモード	上限周波数	1kHz　※サンプリング周波数の1/10まで
	下限周波数	1Hz
	周波数分割設定	リニア/ログ選択可
	周波数分解能	1000ポイント以下
	アベレージ回数	200回以下
FFTモード	FFT点数	512ポイント以下
	上限周波数	5kHz　　※サンプリング周波数の1/2まで
	アベレージ回数	200回以下
解析ソフトウェア Lepton
入出力波形	表示方法	縦軸：電圧・Duty値・・・等　計測対象によって異なります。 横軸：時間　リニア
	表示可能な波形種別	・周波数特性計測用の外乱波形 ・計測対象との動作確認用のステップ関数波形 ・計測対象との動作確認用のインパルス関数波形
ボード線図	表示方法	縦軸：ゲインと位相　リニア 横軸：周波数　リニア/ログ
	解析機能	・ゲイン余裕、位相余裕を数値表示 ・入出力信号の線形性を現すコヒーレンス関数を表示 ・カーソル機能により波形読み取りが容易
ナイキスト線図	表示方法	縦軸：虚数部 横軸：実数部 動径：デシベル/絶対値
計測結果保存		CSVファイル
		Leptonデータファイル（独自フォーマット）
PC動作環境		WindowsXP,Viata,7
本体情報
ディジタル計測 I/F	I/Fコネクタ	26ピン 2.54ピッチ　13×2
	通信仕様	SPI準拠 通信クロック：5MHz、データ幅：16bit、送信：1ch/受信：1ch
	電気的特性	CMOSロジック 3.3V 74LVCシリーズ
PC接続 I/F	USB	2.0
電源	ACアダプタ	入力 AC100～240V、50/60Hz
		出力 +5V
	消費電力	5W以下
サイズ		H72×W210×D230
重量		約2.0kg
動作温度		10～40℃（結露なきこと）
付属品		計測アプリケーションCD、USBケーブル、ACアダプター

価格

　定価 1,300,000円　＋　導入費用

カタログPDFをご覧下さい

サーボアナライザー カタログPDF

ご注文

サーボアナライザーご注文について

　ご注文につきましては以下のメールにてお問い合わせください。

　Eメール（購入関係） ： inquiry@micronet.co.jp

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